整流二極管芯片外觀AOI檢測設(shè)備
彤光整流二極管芯片外觀AOI設(shè)備利用CCD成像技術(shù),采集擴(kuò)晶后芯片正反面圖像,再利用彤光WFVS軟件系統(tǒng)并集成AI智能學(xué)習(xí)模塊對相機(jī)采集到的圖像進(jìn)行分析,模擬人眼的視覺特性,自動多方位檢測芯片上的缺陷并對檢出的崩邊缺陷輸出量測數(shù)據(jù)。
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