中文
晶圓芯片外觀自動(dòng)檢測(cè)AOI
彤光晶圓芯片外觀AOI設(shè)備利用CCD成像技術(shù)，采集芯片正反面圖像，再利用彤光WFVS軟件系統(tǒng)并集成AI智能學(xué)習(xí)模塊對(duì)相機(jī)采集到的圖像進(jìn)行分析，模擬人眼的視覺特性，自動(dòng)多方位檢測(cè)芯片上的缺陷。
晶圓芯片外觀AOI設(shè)備應(yīng)用范圍廣，成功應(yīng)用于tvs，晶閘管，miniLED芯片，microLED芯片，IGBT芯片，整流二極管等外觀缺陷檢測(cè)。
業(yè)務(wù)聯(lián)系：劉生15007696589
電 話：0769-22010186
郵 箱：sales@tongontech.cn
網(wǎng) 址：http://zfbhbtx.cn
地 址：廣東省東莞市東城街道立新軍民路5號(hào)1-2棟
 | 說明: 1、AOI根據(jù)芯片的檢測(cè)結(jié)果自動(dòng)生成MAP如圖 2、MAP讀取格式為wafermap，生成的MAP格式，包含有圖片，txt和xml 3、不同NG類別可輸出不同bin的要求 （map圖片顏色區(qū)別)，同時(shí)可輸出檢驗(yàn)清單，包含不良分bin統(tǒng)計(jì)的數(shù)量 4、還可以根據(jù)客戶的MAP格式要求修訂MAP的內(nèi)容 |
熱門推薦
- 暫無記錄
