在薄膜的實際生產(chǎn)過程中，由于各方面因素的影響，薄膜表面會出現(xiàn)諸如孔洞、蚊蟲、黑點、晶點、劃傷、漏涂等瑕疵，嚴重影響了薄膜的質(zhì)量，給生產(chǎn)商帶來了不必要的損失。彤光電子通過多年技術(shù)及實踐積累，針對不同薄膜生產(chǎn)工藝的特性需求以及缺陷類型，向薄膜制造商提供全面、有效、定制化解決方案。

　　膜材系列AOI幅寬: 根據(jù)客戶生產(chǎn)線對應(yīng)材料寬度定制

　　膜材系列AOI對象:光學(xué)膜、鋰電隔膜、離型膜、食品包裝膜、PVC、PE膜、保護膜等

　　缺陷類型:晶點、劃傷、凹坑、孔洞、蚊蟲、黑點、缺料、漏涂、油污等

　　缺陷缺陷標(biāo)識:自動聲光報警，同時在系統(tǒng)界面顯示當(dāng)前缺陷的具體圖像及信息

　　歷史記錄:記錄每一卷薄膜缺陷的總數(shù)，分布的位置、大小、面積等信息

　　應(yīng)用

　　彤光電子針對薄膜表面缺陷膜材系列AOI需求提出有覆蓋涂布、分切、復(fù)卷等工藝段的膜材系列AOI解決方案，助力客戶提升產(chǎn)品質(zhì)量，嚴格把關(guān)質(zhì)檢環(huán)節(jié)。

　　系統(tǒng)功能特點

　　彤光電子擁有完全自主研發(fā)的軟件平臺，包含缺陷膜材系列AOI、缺陷分類、缺陷數(shù)據(jù)存儲功能。采用傳統(tǒng)算法+AI+傳統(tǒng)算法的算法框架，人為干預(yù)分類過程，并利用人工數(shù)學(xué)描述對疵點預(yù)分類或再分類。

　　智能分類

　　采用機器學(xué)習(xí)與深度學(xué)習(xí)引擎相結(jié)合的模式，對缺陷特征進行自主學(xué)習(xí)，實現(xiàn)精準(zhǔn)自動分類。

　　分布式運算框架

　　分布式運算架構(gòu)，多線程并行處理邏輯，提高在高速狀態(tài)下的處理能力。

　　多樣化缺陷報表

　　以表格或圖形的形式對膜材系列AOI結(jié)果和統(tǒng)計數(shù)據(jù)進行分析。

　　智能化數(shù)據(jù)管理

　　內(nèi)置缺陷數(shù)據(jù)分析引擎，對采集的缺陷數(shù)據(jù)進行多維度數(shù)據(jù)分析，周期性、連續(xù)性缺陷及時報警。

　　區(qū)域缺陷密度分析

　　軟件可實時顯示膜材系列AOI畫面，并可實時展示缺陷分布的具體位置。同時可根據(jù)客戶需求，統(tǒng)計區(qū)域缺陷密度。

　　跨工單分析

　　可將多時段多工單數(shù)據(jù)進行整合分析，掌握更真實的質(zhì)量情況

       缺陷等級劃分

       用戶可使用不同顏色對缺陷的嚴重程度分類，同時還可按照質(zhì)量要求對缺陷進行大小范圍、缺陷名稱定義。

缺陷報表

軟件可提供豐富的定制化缺陷報表和統(tǒng)計分析圖表，例如缺陷數(shù)量統(tǒng)計報表、缺陷分段統(tǒng)計概述表、缺陷分段記錄表等。密度熱力圖可直觀的展現(xiàn)統(tǒng)計區(qū)域的缺陷分布情況，便于客戶掌握該統(tǒng)計區(qū)域的質(zhì)量情況。